| 1. Identificação | ||||
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) | |||
| Site | mtc-m21c.sid.inpe.br | |||
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S | |||
| Identificador | 8JMKD3MGP3W34R/3TQHA6B | |||
| Repositório | sid.inpe.br/mtc-m21c/2019/08.09.17.21 (acesso restrito) | |||
| Última Atualização | 2019:08.09.17.21.44 (UTC) simone | |||
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/mtc-m21c/2019/08.09.17.21.44 | |||
| Última Atualização dos Metadados | 2020:01.08.14.14.00 (UTC) administrator | |||
| DOI | 10.3390/electronics8070749 | |||
| ISSN | 1450-5843 | |||
| Chave de Citação | ArmelinNaviAmor:2019:SoVuEs | |||
| Título | Soft-error vulnerability estimation approach based on the set susceptibility of each gate  | |||
| Ano | 2019 | |||
| Mês | July | |||
| Data de Acesso | 02 maio 2024 | |||
| Tipo de Trabalho | journal article | |||
| Tipo Secundário | PRE PI | |||
| Número de Arquivos | 1 | |||
| Tamanho | 917 KiB | |||
| 2. Contextualização | ||||
| Autor | 1 Armelin, Fábio Batagin 2 Naviner, Lírida Alves de Barros 3 d'Amore, Roberto | |||
| Grupo | 1 DIDEA-CGETE-INPE-MCTIC-GOV-BR | |||
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 2 Institut Polytechnique de Paris 3 Instituto Tecnológico de Aeronáutica (ITA) | |||
| Endereço de e-Mail do Autor | 1 fabio.armelin@inpe.br | |||
| Revista | Electronics (Switzerland) | |||
| Volume | 8 | |||
| Número | 7 | |||
| Páginas | e749 | |||
| Histórico (UTC) | 2019-08-09 17:22:42 :: simone -> administrator :: 2019 2020-01-08 14:14:00 :: administrator -> simone :: 2019 | |||
| 3. Conteúdo e estrutura | ||||
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz | |||
| Estágio do Conteúdo | concluido | |||
| Transferível | 1 | |||
| Tipo do Conteúdo | External Contribution | |||
| Tipo de Versão | publisher | |||
| Palavras-Chave | Soft-Error Single-Event Effect Single-Event Transient Soft-Error Rate Soft-Error Vulnerability | |||
| Resumo | Soft-Error Vulnerability (SEV) is a parameter used to evaluate the robustness of a circuit to the induced Soft Errors (SEs). There are many techniques for SEV estimation, including analytical, electrical and logic simulations, and emulation-based approaches. Each of them has advantages and disadvantages regarding estimation time, resources consumption, accuracy, and restrictions over the analysed circuit. Concerning the ionising radiation effects, some analytical and electrical simulation approaches take into account how the circuit topology and the applied input patterns affect their susceptibilities to Single Event Transient (SET) at the gate level. On the other hand, logic simulation and emulation techniques usually ignore these SET susceptibilities. In this context, we propose a logic simulation-based probability-aware approach for SEV estimation that takes into account the specific SET susceptibility of each circuit gate. For a given operational scenario, we extract the input patterns applied to each gate and calculate its specific SET susceptibility. For the 38 analysed benchmark circuits, we obtained a reduction from 15.27% to 0.68% in the average SEV estimation error, when comparing the estimated value to a reference obtained at the transistor level. The results point out an improvement of the SEV estimation process by considering the specific SET susceptibilities. | |||
| Área | ETES | |||
| Arranjo | Soft-error vulnerability estimation... | |||
| Conteúdo da Pasta doc | acessar | |||
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos | |||
| Conteúdo da Pasta agreement |
| |||
| 4. Condições de acesso e uso | ||||
| Idioma | en | |||
| Arquivo Alvo | armelin_soft.pdf | |||
| Grupo de Usuários | simone | |||
| Grupo de Leitores | administrator simone | |||
| Visibilidade | shown | |||
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 | |||
| Permissão de Atualização | não transferida | |||
| 5. Fontes relacionadas | ||||
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3F6GF6B | |||
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/bibdigital/2013/11.04.22.00 1 | |||
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES. | |||
| Acervo Hospedeiro | urlib.net/www/2017/11.22.19.04 | |||
| 6. Notas | ||||
| Campos Vazios | alternatejournal archivingpolicy archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url | |||
| 7. Controle da descrição | ||||
| e-Mail (login) | simone | |||
| atualizar | ||||